Zakup zestawu nadążnych interferometrów laserowych

Przedmiotem zamówienia jest zakup zestawu nadążnych interferometrów laserowych. Minimalne wymagania metrologiczne i funkcjonalne systemu 1. Wymagania dotyczące aparatury pomiarowej a. System musi składać się z co najmniej czterech nadążnych interferometrów laserowych umożliwiających pracę w układzie multilateracyjnym. b. Każdy z interferometrów musi realizować pomiar długości w oparciu o interferometrię laserową, zapewniającą bezpośrednie odniesienie do długości fali światła. c. Rozdzielczość pomiaru długości nie może być gorsza niż 1 nm. d. System musi umożliwiać realizację pomiarów w objętości przestrzennej o zasięgu co najmniej 20 m. e. Masa pojedynczego interferometru nie może przekraczać 10 kg, co umożliwia mobilną konfigurację systemu i elastyczne rozmieszczenie w przestrzeni pomiarowej oraz montaż na konstrukcji posiadanych CMM. f. Interferometry muszą być wyposażone w aktywne układy śledzenia (głowice nadążne), umożliwiające automatyczne podążanie za reflektorem pomiarowym.

2. Wymagania funkcjonalne systemu a. System musi umożliwiać ciągłe śledzenie reflektora pomiarowego w przestrzeni trójwymiarowej, niezależnie od kierunku jego ruchu (przy zachowaniu orientacji reflektora w stronę interferometru). b. System musi umożliwiać realizację pomiarów dynamicznych w trybie On‑The‑Fly, pozwalając na wyznaczanie współrzędnych punktów w trakcie ruchu. c. System musi umożliwiać pracę w konfiguracji redundantnej (multilateracyjnej) oraz rozwiązywanie układu równań nadokreślonych. d. System musi zapewniać możliwość wyznaczania współrzędnych punktów w przestrzeni wyłącznie na podstawie pomiarów długości, bez wykorzystania pomiarów kątowych. e. System musi być przystosowany do współpracy z współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi, w szczególności klasy PMM (np. Hexagon/Leitz – będących na wyposażeniu Zamawiającego), umożliwiając realizację procedur wzorcowania i weryfikacji. f. System musi umożliwiać zastosowanie w badaniach nad dokładnością pozycjonowania maszyn, robotów przemysłowych oraz innych systemów mechatronicznych.

3. Wymagania dotyczące oprogramowania i przetwarzania danych a. System musi być wyposażony w oprogramowanie umożliwiające wyznaczanie współrzędnych 3 D w czasie rzeczywistym na podstawie danych z co najmniej czterech interferometrów. b. Oprogramowanie musi umożliwiać integrację danych pomiarowych oraz obsługę algorytmów multilateracji, w tym metod numerycznych (np. metoda najmniejszych kwadratów). c. System musi umożliwiać eksport danych do zewnętrznych systemów metrologicznych oraz ich integrację z oprogramowaniem wykorzystywanym w analizie pomiarów. d. Preferowana jest możliwość pracy w trybie online (sprzężenie rzeczywiste) lub alternatywnie w trybie półautomatycznym z wykorzystaniem automatycznego przetwarzania danych wsadowych. e. Oprogramowanie musi umożliwiać analizę jakości danych pomiarowych, w tym ocenę niepewności oraz identyfikację błędów.

4. Wymagania metrologiczne i aplikacyjne rozszerzone a. System musi zapewniać pełną spójność metrologiczną (traceability) z układem jednostek SI poprzez wykorzystanie interferometrii laserowej. b. System musi umożliwiać identyfikację oraz kompensację wpływów środowiskowych, takich jak temperatura, ciśnienie oraz wilgotność. c. System musi umożliwiać zastosowanie w procesach wzorcowania, weryfikacji i monitorowania dokładności współrzędnościowych systemów pomiarowych różnych typów. d. System musi umożliwiać wykorzystanie reflektorów pomiarowych o szerokim kącie pracy (np. do ~160°), zapewniających stabilność śledzenia w dużych objętościach pomiarowych. e. System musi umożliwiać prowadzenie badań nad niepewnością pomiarów oraz walidację modeli metrologicznych.

Przedmiotem zamówienia jest zakup zestawu nadążnych interferometrów laserowych. Minimalne wymagania metrologiczne i funkcjonalne systemu 1. Wymagania dotyczące aparatury pomiarowej a. System musi składać się z co najmniej czterech nadążnych interferometrów laserowych umożliwiających pracę w układzie multilateracyjnym. b. Każdy z interferometrów musi realizować pomiar długości w oparciu o interferometrię laserową, zapewniającą bezpośrednie odniesienie do długości fali światła. c. Rozdzielczość pomiaru długości nie może być gorsza niż 1 nm. d. System musi umożliwiać realizację pomiarów w objętości przestrzennej o zasięgu co najmniej 20 m. e. Masa pojedynczego interferometru nie może przekraczać 10 kg, co umożliwia mobilną konfigurację systemu i elastyczne rozmieszczenie w przestrzeni pomiarowej oraz montaż na konstrukcji posiadanych CMM. f. Interferometry muszą być wyposażone w aktywne układy śledzenia (głowice nadążne), umożliwiające automatyczne podążanie za reflektorem pomiarowym.

2. Wymagania funkcjonalne systemu a. System musi umożliwiać ciągłe śledzenie reflektora pomiarowego w przestrzeni trójwymiarowej, niezależnie od kierunku jego ruchu (przy zachowaniu orientacji reflektora w stronę interferometru). b. System musi umożliwiać realizację pomiarów dynamicznych w trybie On‑The‑Fly, pozwalając na wyznaczanie współrzędnych punktów w trakcie ruchu. c. System musi umożliwiać pracę w konfiguracji redundantnej (multilateracyjnej) oraz rozwiązywanie układu równań nadokreślonych. d. System musi zapewniać możliwość wyznaczania współrzędnych punktów w przestrzeni wyłącznie na podstawie pomiarów długości, bez wykorzystania pomiarów kątowych. e. System musi być przystosowany do współpracy z współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi, w szczególności klasy PMM (np. Hexagon/Leitz – będących na wyposażeniu Zamawiającego), umożliwiając realizację procedur wzorcowania i weryfikacji. f. System musi umożliwiać zastosowanie w badaniach nad dokładnością pozycjonowania maszyn, robotów przemysłowych oraz innych systemów mechatronicznych.

3. Wymagania dotyczące oprogramowania i przetwarzania danych a. System musi być wyposażony w oprogramowanie umożliwiające wyznaczanie współrzędnych 3 D w czasie rzeczywistym na podstawie danych z co najmniej czterech interferometrów. b. Oprogramowanie musi umożliwiać integrację danych pomiarowych oraz obsługę algorytmów multilateracji, w tym metod numerycznych (np. metoda najmniejszych kwadratów). c. System musi umożliwiać eksport danych do zewnętrznych systemów metrologicznych oraz ich integrację z oprogramowaniem wykorzystywanym w analizie pomiarów. d. Preferowana jest możliwość pracy w trybie online (sprzężenie rzeczywiste) lub alternatywnie w trybie półautomatycznym z wykorzystaniem automatycznego przetwarzania danych wsadowych. e. Oprogramowanie musi umożliwiać analizę jakości danych pomiarowych, w tym ocenę niepewności oraz identyfikację błędów.

4. Wymagania metrologiczne i aplikacyjne rozszerzone a. System musi zapewniać pełną spójność metrologiczną (traceability) z układem jednostek SI poprzez wykorzystanie interferometrii laserowej. b. System musi umożliwiać identyfikację oraz kompensację wpływów środowiskowych, takich jak temperatura, ciśnienie oraz wilgotność. c. System musi umożliwiać zastosowanie w procesach wzorcowania, weryfikacji i monitorowania dokładności współrzędnościowych systemów pomiarowych różnych typów. d. System musi umożliwiać wykorzystanie reflektorów pomiarowych o szerokim kącie pracy (np. do ~160°), zapewniających stabilność śledzenia w dużych