Brak terminu
BZP
Dostawa urządzenia do plazmowego czyszczenia podłoży
Wartość szacunkowa
Nie podano
Wadium
Brak
nie wymagane
Termin składania ofert
—
Konkurencyjność
—
dane po rozstrzygnięciach
Wynik postępowania
Wynik przetargu i analiza ofert
Wartość umowy
220 170,00 PLN
Liczba złożonych ofert
2
Niska konkurencja
Najtańsza oferta
220 170,00 PLN
Najdroższa oferta
220 170,00 PLN
Data zawarcia umowy: 03.12.2025
Informacje o zamówieniu
Zamawiający
Nazwa
SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI
Miasto
Warszawa
Województwo
Mazowieckie
NIP
5213910680
Lokalizacja zamawiającego
Przybliżona lokalizacja miejscowości zamawiającego (Warszawa). Dane: GeoNames, OpenStreetMap.
Szczegóły zamówienia
Rodzaj
Dostawy
Branża (CPV)
38500000-0 — Aparatura kontrolna i badawcza
Numer ogłoszenia
2025/BZP 00632886
Data publikacji
31.12.2025 14:17
Kody CPV
38500000-0
Aparatura kontrolna i badawcza
Analiza rynkowa i konkurencja
Analiza rynkowa
Warunki i informacje dodatkowe
Informacje dodatkowe
Rodzaj zamówienia
Zamówienie klasyczne
Próg unijny
Poniżej progu
ID postępowania
ocds-148610-08f21286-5e9d-42ca-abb0-9c05573ddfd7
Najczęściej zadawane pytania
Kto jest zamawiającym?
Zamawiającym jest SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI z siedzibą w Warszawa.
Do jakiej branży należy to zamówienie?
Zamówienie należy do branży: Sprzęt laboratoryjny (CPV: 38500000-0).
Gdzie znaleźć pełną dokumentację?
Pełna dokumentacja jest dostępna na platformie BZP. Przejdź do ogłoszenia →
Podobne przetargi
Dostawa samochodu specjalnego (WUKO) do czyszczenia sieci kanalizacji na potrzeby LĄDECKICH USŁUG KO
Dostawa odczynników, odczynników do oceny jakości wyizolowanego ddcfDNA /wolne pozakomórkowe DNA/, k
Wyposażenie Laboratorium Technologii Wodorowych – część badawcza. Znak sprawy: DZPZ.282.40.2026.DM
Dostawa stacji zasilającej do nanosondy elektronów Augera ULVAC PHI 670. Znak sprawy: DZPZ.282.44.20
Dostawa w formie leasingu operacyjnego komory klimatycznej dla Głównego Instytutu Górnictwa Państwow
Dostawa systemu pomiaru deformacji oparty o metodę cyfrowej korelacji obrazu