Brak terminuBZP
Dostawa przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozpraszania i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych.
Wartość szacunkowaNie podano
WadiumBrakniewymagane
Termin składania ofert—
Konkurencyjność—dane po rozstrzygnięciach
Informacje o zamówieniu
Zamawiający
NazwaSIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI
MiastoWarszawa
WojewództwoMazowieckie
NIP5213910680
Lokalizacja zamawiającego
Przybliżona lokalizacja miejscowości zamawiającego (Warszawa). Dane: GeoNames, OpenStreetMap.
Szczegóły zamówienia
RodzajDostawy
Branża (CPV)38540000-2 — Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa
Numer ogłoszenia2026/BZP 00232171
Data publikacji07.05.2026 08:30
Kody CPV
38540000-2Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa
Analiza rynkowa i konkurencja
Przebieg postępowania
- Ogłoszenie o zamówieniu10.03.2026
- Wynik postępowania (ta strona)07.05.2026
Analiza rynkowa
Warunki i informacje dodatkowe
Informacje dodatkowe
Rodzaj zamówieniaTryb podstawowy bez negocjacji
Próg unijnyPoniżej progu
ID postępowaniaocds-148610-dd874da3-bbfd-4798-aa66-6d6c714ae41c
Najczęściej zadawane pytania
Kto jest zamawiającym?
Zamawiającym jest SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI z siedzibą w Warszawa.
Do jakiej branży należy to zamówienie?
Zamówienie należy do branży: Sprzęt laboratoryjny (CPV: 38540000-2).
Gdzie znaleźć pełną dokumentację?
Pełna dokumentacja jest dostępna na platformie BZP. Przejdź do ogłoszenia →
Podobne przetargi
Dostawa zestawu stanowiska pomiarowego typu Probe StationDostawa narzędzi i elektronarzędzi - sprawa nr 79/2026"Zakup i dostawa wyposażenia dla ZSZ w Pińczowie"Dostawa aparatów do badania odporności na ciepło kontaktowe w różnych warunkach narażenia termicznegZwiększenie jakości infrastruktury wodociągowej w gm. PawłówZakup stałych stacji monitoringu hałasu
Znajdź aktywne przetargi podobne do tego — analiza znaczeniowa i alert na kolejne