Dostawa dynamicznego spektrometru mas jonów wtórnych.
Informacje o zamówieniu
Zamawiający
Lokalizacja zamawiającego
Przybliżona lokalizacja miejscowości zamawiającego (Warszawa). Dane: GeoNames, OpenStreetMap.
Szczegóły zamówienia
Kody CPV
Analiza rynkowa i konkurencja
Analiza rynkowa
Przedmiot zamówienia
Opis zamówienia
Przedmiotem zamówienia jest dostawa i uruchomienie Spektrometru Mas Jonów Wtórnych (SIMS) przeznaczonego do charakteryzacji otrzymywanych kryształów podłoży oraz implantowanych podłoży Ga N pod kątem zawartości intencjonalnie wprowadzonych domieszek jak i nieintencjonalnych zanieczyszczeń. Urządzenie musi zapewnić wykonanie precyzyjnych analiz pierwiastkowych i izotopowych w półprzewodnikach azotkowych, takich jak kryształy domieszkowane i implantowane. Urządzenie musi umożliwiać profilowanie głębokościowe z wysoką rozdzielczością oraz szerokim zakresem dynamicznym, a także oferować doskonałe limity detekcji dzięki dwóm źródłom jonów o wysokiej gęstości (O2+ i Cs+). Spektrometr musi być wyposażony w system automatycznego ładowania próbek, co zapewni zdalną obsługę i analizę wielu próbek w trybie łańcuchowym, przy minimalnej interwencji operatora.
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się punkcie 3 SWZ
Warunki i informacje dodatkowe
Wadium
Informacje dodatkowe
Najczęściej zadawane pytania
Jaki jest termin składania ofert?
Termin składania ofert upływa 16.12.2024. Termin już minął.
Kto jest zamawiającym?
Zamawiającym jest Instytut Wysokich Ciśnień Polskiej Akademii Nauk z siedzibą w Warszawa.
Czy przetarg wymaga wadium?
Tak, zamawiający wymaga wniesienia wadium.
Do jakiej branży należy to zamówienie?
Zamówienie należy do branży: Sprzęt laboratoryjny (CPV: 38433100).
Gdzie znaleźć pełną dokumentację?
Pełna dokumentacja jest dostępna na platformie TED UE. Przejdź do ogłoszenia →