Dostawa jednoczesnego mikroskopu zintegrowanego ze spektrometrem ramanowskim i spektrometrem FTIR wraz meblami laboratoryjnymi, oprogramowaniem i osprzętem komputerowym

Jednoczesny mikroskop zintegrowany ze spektrometrem ramanowskim i spektrofotometrem FTIR − system optyczny: obiektyw Cassegrain ×15 i zwierciadlany kondenser Cassagrain ×15, obiektyw do pomiarów ramanowskich z powiększeniem minimum ×50 oraz możliwością dołożenia obiektywu ×100 − szczelina automatyczna, z niezależnym ruchem w kierunku X, Y i kątowym (trzy osiowa),

− rozdzielczość: przynajmniej 1 µm w kierunkach X i Y, 1° w kierunku θ, zapewniona możliwość ustawiania szczelin co najmniej pomiędzy 5 a 200 µm w kierunkach X i Y. − detektor T2 SL wyposażony w czujnik kontroli poziomu ciekłego azotu,

− zakres długości fali dla FTIR: co najmniej od 5000 do 700 cm-1,

− stosunek sygnału do szumu S/N≥30000:1 (peak to peak, dla szczeliny 100 µm × 100 µm, 8 cm-1, 2 min),

− lasery wzbudzające: minimum dwa o długościach fali w zakresie 500-800 nm − Zakres długości fali dla Ramana: co najmniej od 4000 do 150 cm-1 − Rozdzielczość przestrzenna w trybie Ramana: 5 µm lub lepiej − Możliwość przeprowadzania pomiarów głębokościowych z rozdzielczością co najmniej 15 µm − pomiar próbek do grubości co najmniej 40 mm dla trybu odbiciowego/ATR i co najmniej 10 mm dla trybu transmisyjnego,

− maksymalna masa próbki nie mniejsza niż 1 kg. − zakres przesuwu próbki XY: co najmniej 70×30 mm − wymiary stolika na próbki: co najmniej 230×210 mm − automatyczne przełączanie pomiędzy trybami FTIR/Raman − autofokus oraz automatyczne dostrajanie zwierciadła kondensera − automatyczne rozpoznawanie zanieczyszczeń − jednoczesna obserwacja obrazu IR i oraz obrazu widzialnego − obiektyw ATR wyposażony w kryształ Ge o średnicy około 200 µm, kąt padania 45 stopni, czujnik ciśnienia, funkcje: obserwacja próbki w trakcie pomiaru ATR, automatyczne pomiary ATR − zestaw kamery szerokokątnej umożliwiającej obserwację obszaru co najmniej 10×13 mm,

− możliwość rozbudowy o dodatkowy detektor nie wymagający ciekłego azotu − oprogramowanie do sterowania zestawem, zbierania i opracowywania danych oraz do mapowania. Zapewnia korekcję tła zero-, trzy- oraz wielopunktową, korekcję ATR, korekcję atmosfery, analizę Kramersa-Kroniga, analizę różnicową, przeszukiwanie widm i importowanie widm referencyjnych, eliminację promieniowania kosmicznego, korekcję czułości detektora − możliwość wykonywania mapowania powierzchni w trybach: transmisyjnym, odbiciowym, ATR − zakres falowy: co najmniej 7800-350 cm-1 (z możliwością rozszerzenia do zakresu przynajmniej 12500-240 cm-1) − interferometr Michaelsona 30°(60°), wyposażony w system dynamicznego justowania − rozdzielczość: co najmniej 0.25, 0.5, 1, 2, 4, 8, 16 cm-1 − szybkość skanowania do wyboru co najmniej 2, 2.8, 5 i 9 mm/s (opcjonalnie z dodatkowym oprogramowaniem 10, 20, 30, 40 mm/s) − próbkowanie laserem He-Ne − źródła światła: wysokoenergetyczne ceramiczne − detektor DLATGS z kontrolą temperatury − dzielnik wiązki: Ge/KBr − wbudowany w komorę interferometru automatyczny osuszacz − stosunek sygnału do szumu co najmniej 60 000:1 (dla rozdzielczości 4 cm-1, 1 min. zbieranie widma, pik 2200 cm-1, peak to peak) − automatyczne ustawianie i ogniskowanie wiązki na środku komory − monitorowanie czasu pracy ceramicznego źródła światła oraz pracy lasera − komora pomiarowa: nie mniejsza niż 20 cm x 24 cm x 18 cm (szerokość x głębokość x wysokość) − automatyczne rozpoznawanie akcesoriów − wymiary spektrofotometru nie większe niż: 60 cm x 67 cm x 30 cm (szerokość x głębokość x wysokość) Oprogramowanie do sterowania przyrządem, walidacji, zbierania i opracowywania danych:

− uśrednianie widm − tryby pracy: postrun – tryb pracy do przetwarzania danych, pomiarowy, ilościowy, fotometryczny − wbudowane funkcje diagnostyki aparatu (przy inicjalizacji sprawdzane są systemy elektryczny, sygnałowy oraz optyczny), funkcja ciągłego monitorowania rodzaju dzielnika wiązki, źródła światła, lasera He-Ne, warunków wilgotności i informacji odnośnie akcesoriów rozpoznanych przy starcie − licznik godzin pracy źródła ceramicznego i lasera He-Ne i informacja o czasie pozostałym do następnego przeglądu serwisowego − wszystkie zdarzenia diagnostyczne zapisywane w oddzielnym pliku z dokładną godziną oraz datą (log file) − wykonywanie podstawowych działań arytmetycznych, wykrywanie pików, korekcję zerowej linii bazowej, trzypunktową korekcję linii bazowej, wielopunktową korekcję linii bazowej, wygładzanie, różniczkowanie i wiele innych przekształceń matematycznych − wbudowane procedury Kubelka-Munk, Kramers-Kronig, korekcję widm ATR, przekształcenia fourierowskie FFT, całkowanie, zmiana absorbancji na transmitancję i odwrotnie, poszukiwanie widma, zamiana skali w cm-1 na nm i odwrotnie − zapisywanie danych w formatach JCAMP-DX, ASCII, CSV − tworzenie raportów własnych lub na postawie istniejących wzorców zawartych w oprogramowaniu − zgodne z wytycznymi: EP, CHP, JP, USP, ASTM − zgodne z GLP/GMP − zawierające standardowo bazę co najmniej 11500 związków organicznych, polimerów, produktów farmaceutycznych, związków nieorganicznych, dodatków do żywności, zanieczyszczeń itp. − umożliwiające przeszukiwanie i tworzenie bibliotek − możliwość przeszukiwania w widmie mieszaniny jednocześnie co najmniej 7 składników NIEZBĘDNY system operacyjny do sterowania MIKROSKOPEM / KONTROLER APARATU/ZESTAW KOMPUTEROWY Z KOMPATYBILNYM OPROGRAMOWANIEM I SYSTEMEM OPERACYJNYM, ZAWIERAJĄCYM CO NAJMNIEJ - system operacyjny Windows 10 PL Professional - monitor o przekątnej co najmniej 27 cali - dysk SSD co najmniej 500 GB - pamięć RAM co najmniej 16 GB - procesor Intel Core i5 lub wyższy - klawiatura oraz mysz bezprzewodowa ODPOWIEDNIE MEBLE LABORATORYJNE KOMPATYBILNE Z APARATURĄ (ANTYWIBRACYJNA I SOLIDNA KONSTRUKCJA) Gwarancja całościowa (aparatura, oprogramowanie i meble) – co najmniej 24 miesiące Cena musi uwzględniać koszty transportu, instalacji oraz szkolenia

Jednoczesny mikroskop zintegrowany ze spektrometrem ramanowskim i spektrofotometrem FTIR − system optyczny: obiektyw Cassegrain ×15 i zwierciadlany kondenser Cassagrain ×15, obiektyw do pomiarów ramanowskich z powiększeniem minimum ×50 oraz możliwością dołożenia obiektywu ×100 − szczelina automatyczna, z niezależnym ruchem w kierunku X, Y i kątowym (trzy osiowa),

− rozdzielczość: przynajmniej 1 µm w kierunkach X i Y, 1° w kierunku θ, zapewniona możliwość ustawiania szczelin co najmniej pomiędzy 5 a 200 µm w kierunkach X i Y. − detektor T2 SL wyposażony w czujnik kontroli poziomu ciekłego azotu,

− zakres długości fali dla FTIR: co najmniej od 5000 do 700 cm-1,

− stosunek sygnału do szumu S/N≥30000:1 (peak to peak, dla szczeliny 100 µm × 100 µm, 8 cm-1, 2 min),

− lasery wzbudzające: minimum dwa o długościach fali w zakresie 500-800 nm − Zakres długości fali dla Ramana: co najmniej od 4000 do 150 cm-1 − Rozdzielczość przestrzenna w trybie Ramana: 5 µm lub lepiej − Możliwość przeprowadzania pomiarów głębokościowych z rozdzielczością co najmniej 15 µm − pomiar próbek do grubości co najmniej 40 mm dla trybu odbiciowego/ATR i co najmniej 10 mm dla trybu transmisyjnego,

− maksymalna masa próbki nie mniejsza niż 1 kg. − zakres przesuwu próbki XY: co najmniej 70×30 mm − wymiary stolika na próbki: co najmniej 230×210 mm − automatyczne przełączanie pomiędzy trybami FTIR/Raman − autofokus oraz automatyczne dostrajanie zwierciadła kondensera − automatyczne rozpoznawanie zanieczyszczeń − jednoczesna obserwacja obrazu IR i oraz obrazu widzialnego − obiektyw ATR wyposażony w kryształ Ge o średnicy około 200 µm, kąt padania 45 stopni, czujnik ciśnienia, funkcje: obserwacja próbki w trakcie pomiaru ATR, automatyczne pomiary ATR − zestaw kamery szerokokątnej umożliwiającej obserwację obszaru co najmniej 10×13 mm,

− możliwość rozbudowy o dodatkowy detektor nie wymagający ciekłego azotu − oprogramowanie do sterowania zestawem, zbierania i opracowywania danych oraz do mapowania. Zapewnia korekcję tła zero-, trzy- oraz wielopunktową, korekcję ATR, korekcję atmosfery, analizę Kramersa-Kroniga, analizę różnicową, przeszukiwanie widm i importowanie widm referencyjnych, eliminację promieniowania kosmicznego, korekcję czułości detektora − możliwość wykonywania mapowania powierzchni w trybach: transmisyjnym, odbiciowym, ATR − zakres falowy: co najmniej 7800-350 cm-1 (z możliwością rozszerzenia do zakresu przynajmniej 12500-240 cm-1) − interferometr Michaelsona 30°(60°), wyposażony w system dynamicznego justowania − rozdzielczość: co najmniej 0.25, 0.5, 1, 2, 4, 8, 16 cm-1 − szybkość skanowania do wyboru co najmniej 2, 2.8, 5 i 9 mm/s (opcjonalnie z dodatkowym oprogramowaniem 10, 20, 30, 40 mm/s) − próbkowanie laserem He-Ne − źródła światła: wysokoenergetyczne ceramiczne − detektor DLATGS z kontrolą temperatury − dzielnik wiązki: Ge/KBr − wbudowany w komorę interferometru automatyczny osuszacz − stosunek sygnału do szumu co najmniej 60 000:1 (dla rozdzielczości 4 cm-1, 1 min. zbieranie widma, pik 2200 cm-1, peak to peak) − automatyczne ustawianie i ogniskowanie wiązki na środku komory − monitorowanie czasu pracy ceramicznego źródła światła oraz pracy lasera − komora pomiarowa: nie mniejsza niż 20 cm x 24 cm x 18 cm (szerokość x głębokość x wysokość) − automatyczne rozpoznawanie akcesoriów − wymiary spektrofotometru nie większe niż: 60 cm x 67 cm x 30 cm (szerokość x głębokość x wysokość) Oprogramowanie do sterowania przyrządem, walidacji, zbierania i opracowywania danych:

− uśrednianie widm − tryby pracy: postrun – tryb pracy do przetwarzania danych, pomiarowy, ilościowy, fotometryczny − wbudowane funkcje diagnostyki aparatu (przy inicjalizacji sprawdzane są systemy elektryczny, sygnałowy oraz optyczny), funkcja ciągłego monitorowania rodzaju dzielnika wiązki, źródła światła, lasera He-Ne, warunków wilgotności i informacji odnośnie akcesoriów rozpoznanych przy starcie − licznik godzin pracy źródła ceramicznego i lasera He-Ne i informacja o czasie pozostałym do następnego przeglądu serwisowego − wszystkie zdarzenia diagnostyczne zapisywane w oddzielnym pliku z dokładną godziną oraz datą (log file) − wykonywanie podstawowych działań arytmetycznych, wykrywanie pików, korekcję zerowej linii bazowej, trzypunktową korekcję linii bazowej, wielopunktową korekcję linii bazowej, wygładzanie, różniczkowanie i wiele innych przekształceń matematycznych − wbudowane procedury Kubelka-Munk, Kramers-Kronig, korekcję widm ATR, przekształcenia fourierowskie FFT, całkowanie, zmiana absorbancji na transmitancję i odwrotnie, poszukiwanie widma, zamiana skali w cm-1 na nm i odwrotnie − zapisywanie danych w formatach JCAMP-DX, ASCII, CSV − tworzenie raportów własnych lub na postawie istniejących wzorców zawartych w oprogramowaniu − zgodne z wytycznymi: EP, CHP, JP, USP, ASTM − zgodne z GLP/GMP − zawierające standardowo bazę co najmniej 11500 związków organicznych, polimerów, produktów farmaceutycznych, związków nieorganicznych, dodatków do żywności, zanieczyszczeń itp. − umożliwiające przeszukiwanie i tworzenie bibliotek − możliwość przeszukiwania w widmie mieszaniny jednocześnie co najmniej 7 składników NIEZBĘDNY system operacyjny do sterowania MIKROSKOPEM / KONTROLER APARATU/ZESTAW KOMPUTEROWY Z KOMPATYBILNYM OPROGRAMOWANIEM I SYSTEMEM OPERACYJNYM, ZAWIERAJĄCYM CO NAJMNIEJ - system operacyjny Windows 10 PL Professional - monitor o przekątnej co najmniej 27 cali - dysk SSD co najmniej 500 GB - pamięć RAM co najmniej 16 GB - procesor Intel Core i5 lub wyższy - klawiatura oraz mysz bezprzewodowa ODPOWIEDNIE MEBLE LABORATORYJNE KOMPATYBILNE Z APARATURĄ (ANTYWIBRACYJNA I SOLIDNA KONSTRUKCJA) Gwarancja całościowa (aparatura, oprogramowanie i meble) – co najmniej 24 miesiące Cena musi uwzględniać koszty transportu, instalacji oraz szkolenia