PrzetargHubBrak terminuBZP
Dostawa profilometru mechanicznego
Wartość szacunkowaNie podano
WadiumBrakniewymagane
Termin składania ofert—
Konkurencyjność—dane po rozstrzygnięciach
Wynik postępowania
Wynik przetargu i analiza ofert
Wartość umowy897 777,00 PLN
Liczba złożonych ofert1Niska konkurencja
Najtańsza oferta897 777,00 PLN
Najdroższa oferta897 777,00 PLN
Data zawarcia umowy: 22.09.2025
Informacje o zamówieniu
Zamawiający
NazwaSIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI
MiastoWarszawa
WojewództwoMazowieckie
NIP5213910680
Lokalizacja zamawiającego
Przybliżona lokalizacja miejscowości zamawiającego (Warszawa). Dane: GeoNames, OpenStreetMap.
Szczegóły zamówienia
RodzajDostawy
Branża (CPV)38540000-2 — Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa
Numer ogłoszenia2025/BZP 00457368
Data publikacji03.10.2025 15:14
Kody CPV
38540000-2Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa
Analiza rynkowa i konkurencja
Analiza rynkowa
Warunki i informacje dodatkowe
Informacje dodatkowe
Rodzaj zamówieniaTryb podstawowy bez negocjacji
Próg unijnyPoniżej progu
ID postępowaniaocds-148610-55849729-2b60-44d4-bd84-10a3525db56d
Najczęściej zadawane pytania
Kto jest zamawiającym?
Zamawiającym jest SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI z siedzibą w Warszawa.
Do jakiej branży należy to zamówienie?
Zamówienie należy do branży: Sprzęt laboratoryjny (CPV: 38540000-2).
Gdzie znaleźć pełną dokumentację?
Pełna dokumentacja jest dostępna na platformie BZP. Przejdź do ogłoszenia →
Podobne przetargi
Dostawa komory klimatycznej, wraz z przystosowaniem laboratorium na potrzeby montażu aparatury badawDostawa aparatury badawczo-pomiarowej w ramach projektu FENG (Inteligentna platforma predykcyjna zagZakup aparatury badawczej i wyposażenia laboratoryjnego do realizacji zadań wynikających z ustawy oUsługa wzorcowania wyposażenia pomiarowo-badawczego, ZP-DL-53/26Dostawa jednokanałowego stanowiska pomiarowego umożliwiającego pomiary rzeczywistego prądu do 300 A Zaprojektowanie i dostawa stanowiska bad. dla baterii mechanicznych wg PN-EN 817:2025 oraz stanowisk
Znajdź aktywne przetargi podobne do tego — analiza znaczeniowa i alert na kolejne