Brak terminuBZP

Dostawa zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych

Wartość szacunkowaNie podano
WadiumBrakniewymagane
Termin składania ofert
Konkurencyjnośćdane po rozstrzygnięciach

Wynik postępowania

Wynik przetargu i analiza ofert

Wybrany wykonawcaTespol sp. z o.o.Wrocław
Liczba złożonych ofert1Niska konkurencja

Data zawarcia umowy: 15.04.2026

Informacje o zamówieniu

Zamawiający

NazwaSIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI
MiastoWarszawa
WojewództwoMazowieckie
NIP5213910680

Lokalizacja zamawiającego

Przybliżona lokalizacja miejscowości zamawiającego (Warszawa). Dane: GeoNames, OpenStreetMap.

Szczegóły zamówienia

RodzajDostawy
Branża (CPV)38410000-2 — Przyrządy pomiarowe
Numer ogłoszenia2026/BZP 00239033
Data publikacji12.05.2026 10:28

Kody CPV

38410000-2Przyrządy pomiarowe

Analiza rynkowa i konkurencja

Przebieg postępowania

  1. Termin ofert: 31.03.2026 09:00

  2. Wynik postępowania (ta strona)12.05.2026

    Liczba ofert: 1 · Zwycięzca: Tespol sp. z o.o.

Analiza rynkowa

Warunki i informacje dodatkowe

Informacje dodatkowe

Rodzaj zamówieniaTryb podstawowy bez negocjacji
Próg unijnyPoniżej progu
ID postępowaniaocds-148610-c7d4a426-2dc4-4402-a1f8-9493b41308b5

Najczęściej zadawane pytania

Kto jest zamawiającym?

Zamawiającym jest SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI z siedzibą w Warszawa.

Do jakiej branży należy to zamówienie?

Zamówienie należy do branży: Sprzęt laboratoryjny (CPV: 38410000-2).

Gdzie znaleźć pełną dokumentację?

Pełna dokumentacja jest dostępna na platformie BZP. Przejdź do ogłoszenia →

Podobne przetargi

Znajdź aktywne przetargi podobne do tego — analiza znaczeniowa i alert na kolejne