Dostawa mikroskopu sił atomowych umożliwiającego pomiary automatyczne
Informacje o zamówieniu
Zamawiający
Lokalizacja zamawiającego
Przybliżona lokalizacja miejscowości zamawiającego (Warszawa). Dane: GeoNames, OpenStreetMap.
Szczegóły zamówienia
Kody CPV
Analiza rynkowa i konkurencja
Analiza rynkowa
Przedmiot zamówienia
Opis zamówienia
Przedmiotem zamówienia jest zestaw mikroskopu sił atomowych (ang. atomic force microscope- AFM) umożliwiający pomiar topografii i innych właściwości podłoży oraz warstw epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych, w szczególności wytworzonych metodą MBE na podłożach Ga N, składający się z:
1) Niezależnych skanerów w osi Z oraz XY przy czym skaner osi Z jest zintegrowany w głowicy mikroskopu, a skaner XY, jest elementem stolika skanującego.
2) Zautomatyzowanego stolika umożliwiającego pomiary podłoży o średnicy 2” , jak również pomiary mniejszych próbek.
3) Zestawu optycznego do podglądu próbki
4) Elektronicznego, cyfrowego kontrolera mikroskopu
5) Komory dźwiękochłonnej i aktywnej platformy antywibracyjnej.
6) Zestawu komputerowego
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się punkcie 3 SWZ
Warunki i informacje dodatkowe
Informacje dodatkowe
Najczęściej zadawane pytania
Kto jest zamawiającym?
Zamawiającym jest Instytut Wysokich Ciśnień Polskiej Akademii Nauk z siedzibą w Warszawa.
Do jakiej branży należy to zamówienie?
Zamówienie należy do branży: Sprzęt laboratoryjny (CPV: 38514200).
Gdzie znaleźć pełną dokumentację?
Pełna dokumentacja jest dostępna na platformie TED UE. Przejdź do ogłoszenia →