Brak terminuTED UE

Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej

Wartość szacunkowaNie podano
WadiumBrakniewymagane
Termin składania ofert
Konkurencyjnośćdane po rozstrzygnięciach

Wynik postępowania

Wynik przetargu i analiza ofert

Wybrany wykonawcaLabsoft Sp. z o.o.Warszawa
Wartość umowy1 340 700,00 PLN

Informacje o zamówieniu

Zamawiający

NazwaCentrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki Warszawskiej
MiastoWarszawa
WojewództwoMazowieckie
NIP5250005834

Lokalizacja zamawiającego

Przybliżona lokalizacja miejscowości zamawiającego (Warszawa). Dane: GeoNames, OpenStreetMap.

Szczegóły zamówienia

RodzajDostawy
Branża (CPV)38500000 — Sprzęt laboratoryjny
Numer ogłoszenia150986-2025
Data publikacji07.03.2025

Kody CPV

38500000Sprzęt laboratoryjny

Analiza rynkowa i konkurencja

Analiza rynkowa

Przedmiot zamówienia

Opis zamówienia

Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej

do Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT

Warunki i informacje dodatkowe

Informacje dodatkowe

Próg unijnyPowyżej progu UE
KrajPL

Najczęściej zadawane pytania

Kto jest zamawiającym?

Zamawiającym jest Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki Warszawskiej z siedzibą w Warszawa.

Do jakiej branży należy to zamówienie?

Zamówienie należy do branży: Sprzęt laboratoryjny (CPV: 38500000).

Gdzie znaleźć pełną dokumentację?

Pełna dokumentacja jest dostępna na platformie TED UE. Przejdź do ogłoszenia →

Podobne przetargi

Znajdź aktywne przetargi podobne do tego — analiza znaczeniowa i alert na kolejne